概述

 Innov-X Systems 新推出的移動(dòng)式X系列礦石分析儀，功能*，便于攜帶，是同類分析儀的基準(zhǔn)。X系列儀器采用10W，50Kv的射線管，超大探測(cè)面的探測(cè)器，多種分析模式，6個(gè)光束濾波器，是目前市場(chǎng)上功能*的移動(dòng)式分析儀。這款儀器的硬件配置特別適合 La, Ce,Pr, Nd, Pm,& Sm等稀有元素及其它探測(cè)元素如，Y，Ba,Nb,Ta & Zr的分析.同時(shí)也很適合測(cè)Mg, Al, Si P, S, K & Ca等輕元素。

Innov-X X系列礦石分析儀系統(tǒng)規(guī)格  

、Innov-X X系列礦石分析儀用途

●  地球化學(xué)勘探

▼廣泛應(yīng)用于普查、詳查的各過(guò)程，
迅速采集礦區(qū)的地球化學(xué)數(shù)據(jù)與
調(diào)查
▼現(xiàn)場(chǎng)快速追蹤礦化異常，有效地
尋找"熱點(diǎn)"地帶，圈定礦體邊界
對(duì)礦山倉(cāng)庫(kù)、礦區(qū)現(xiàn)場(chǎng)日常工作
的有效管控
●  動(dòng)力設(shè)備、管道、 生產(chǎn)線維護(hù)
▼在高峰期對(duì)機(jī)器的預(yù)防性養(yǎng)護(hù)， 防止意外故障
▼分析設(shè)備潤(rùn)滑油等油品中磨損的微量金屬

● 環(huán)境監(jiān)控  

▼更快、更經(jīng)濟(jì)地監(jiān)控礦區(qū)、 工廠周圍的環(huán)境、尾礦、粉塵、土
壤等污染影響，實(shí)現(xiàn)可持續(xù)性發(fā)展
▼原土地、大氣、水資源的污染調(diào)查、測(cè)量與控制
▼作業(yè)現(xiàn)場(chǎng)動(dòng)態(tài)管控，有害元素檢測(cè)，有害廢料篩選

●  礦石品位、過(guò)程控制
▼實(shí)時(shí)進(jìn)行礦石等級(jí)管控
▼對(duì)精礦、尾礦、礦渣的準(zhǔn)確快速分析
▼在運(yùn)轉(zhuǎn)過(guò)程中進(jìn)行現(xiàn)場(chǎng)化學(xué)測(cè)定，為研磨、加工和冶煉等過(guò)程提供幫助
▼為礦物貿(mào)易、加工及再利用提供價(jià)值判定依據(jù)

 Innov-X X系列礦石分析儀模式與元素

 可分析從鎂礦（Mg）到鈾礦（U）之間的83種金屬礦、非金屬礦、貴重金屬礦、稀有金屬礦等自然礦，分析范圍從PPM到99%      

Innov-X X系列礦石分析儀應(yīng)用界面

 Innov-X X系列礦石分析儀技術(shù)性能

 ■采用10W，50Kv的射線管，具有實(shí)驗(yàn)室的精度，是目前世面上功能*的移動(dòng)式分析儀
■采用多光束技術(shù)，使重金屬元素、過(guò)渡元素、輕質(zhì)元素的分析效果達(dá)到 只需直接接觸待測(cè)物表面，即可現(xiàn)場(chǎng)確定礦石等級(jí)、元素鑒定
■可以檢測(cè)的樣品如礦石、巖石、巖芯、礦渣、碎片；土壤、 泥土、泥漿、粉塵、灰塵、過(guò)濾物、薄膜層；廢水、廢油、等等的固體、液體物質(zhì)
■可添加并很好地測(cè)試貴重金屬元素Au、Pt、Ag、Ru、Rh、Pd稀有元素La、Ce、Pr、Nd、Pm、Sm等的現(xiàn)場(chǎng)移動(dòng)式分析儀
■工業(yè)級(jí)觸摸式高清高分辨率彩色TFT觸摸屏、電腦、儀器一體化密封設(shè)計(jì)，有很好的三防性能，可承受惡劣的工作環(huán)境。密封的儀器可在雨天、塵土飛揚(yáng)的室外環(huán)境中長(zhǎng)時(shí)間穩(wěn)定工作
■  真正實(shí)現(xiàn)了現(xiàn)場(chǎng)快速、準(zhǔn)確的檢測(cè)，直接顯示元素的ppm含量與百分比含量
■  儀器內(nèi)置風(fēng)扇，散熱性好，根本性解決XRF儀器存在的散熱問(wèn)題
■  采用Windows XP SP2操作系統(tǒng)，可外接USB、鼠標(biāo)、鍵盤、打印、INTERNET等通用外設(shè)，具有良好的兼容性
■超大規(guī)模的存儲(chǔ)系統(tǒng)，內(nèi)存504M，硬盤18.6G可存儲(chǔ)數(shù)據(jù)高達(dá)86萬(wàn)組數(shù)據(jù)及圖譜  
■具有自動(dòng)校準(zhǔn)、診斷、故障報(bào)告功能，可通過(guò)INTERNET遠(yuǎn)程診斷機(jī)器故障與軟件升級(jí)

 Innov-X X系列礦石分析儀LOD
測(cè)試樣品為勻質(zhì)SiO  ,無(wú)干擾元素，測(cè)試時(shí)間為120秒，LOD值單位為PPM  

 多段電壓、單段電壓與不同元素的LOD的關(guān)系表明多段電壓可以對(duì)不同的元素有很好的LOD下圖為X-5000對(duì)SiO2 的120秒檢測(cè)結(jié)果

 Innov-X X系列礦石分析儀

▼ 模式：Soil(3 Beam)、Mining、 2 Beam Mining
▼ 硅漂移SDD探測(cè)器（Si drift）
▼ 10W X射線管
▼ 能測(cè)試Mg、Al、Si、P、S...