簡(jiǎn)介

低對(duì)比度正弦西門(mén)子星非常適合分析紋理?yè)p失，即低對(duì)比度時(shí)精細(xì)細(xì)節(jié)的損失。成像系統(tǒng)中的紋理?yè)p失是由降噪和其他圖像處理技術(shù)引起的。

低對(duì)比度西門(mén)子之星采用的方法建立了用于紋理分析的將來(lái)的ISO標(biāo)準(zhǔn)195767-1。圖像工程公司的圖像分析軟件iQ-Analyzer的分辨率模塊包括一個(gè)新的TE280圖表，以支持西門(mén)子恒星分析。使用低對(duì)比度（調(diào)制度為18％）的西門(mén)子星，您可以享受正弦西門(mén)子星的優(yōu)勢(shì)。除了有限的分辨率（MTF10）和清晰度以外，使用iQ-Analyzer進(jìn)行分析的結(jié)果還提供了完整的MTF。TE276是用于紋理分析的最終解決方案，它包括枯葉結(jié)構(gòu)和對(duì)齊和線(xiàn)性化所需的外圍標(biāo)記。Image Engineering在各種出版物中表明，其方法目前是解決紋理?yè)p失的解決方案。TE42多功能測(cè)試圖中使用了相同的枯葉結(jié)構(gòu)和低對(duì)比度西門(mén)子星，以進(jìn)行圖像質(zhì)量測(cè)量。

主要紋理分析圖

*單擊圖卡編號(hào)以在Image Engineering網(wǎng)站上顯示信息。

*下列圖卡可以使用圖像分析軟件iQ-Analyzer進(jìn)行分析。

?TE276：枯葉

?TE280：紋理?yè)p失測(cè)試圖