特點:
◆ 測試頻率:12Hz ~ 100kHz, 503 點
◆ 0.05% 高量測準確度 (LCR-817/819)
◆ 0.1% 高量測準確度 (LCR-816/826/827/829)
◆ 100 組設定條件記憶儲存、呼出功能
◆ R/Q, C/D, C/R, L/Q 測試模式
◆ 值、差異值(△ )、差異百分比(△%)顯示
◆ 240 x 128 大型 LCD 顯示幕
◆ 選別機介面 (LCR-826/827/829)
◆ 測試條件及測試結果同時顯示在熒幕上
規(guī)格:
| 測試頻率 | |
| ? | 12Hz to 100kHz (503 點) for LCR-819/829 |
| 準確度 | |
| | 0.05% (LCR-817/819) , 0.1%(LCR-816/826/827/829) |
| 測試速度 | |
| | 34mS (LCR-826/827/829), 68mS (LCR-816/817/819) |
| 測試電壓 | |
| | 5mV ~ 1.275V (5mV/step) for LCR-817/819/827/829 |
| 直流偏壓 | |
| 內部 | 2V |
| 外部 | 0 to 30V |
| 顯示范圍 | |
| 串/并聯(lián)等效阻抗 | R 0.00001Ω ~ 99999kΩ 0.00001Ω ~ 99999kΩ |
| 電容 | C 0.00001pF ~ 99999uF |
| 電感 | L 0.00001mH ~ 99999H |
| 品質因素 | Q 0.0001 ~ 9999 |
| 散逸因素 | D 0.0001 ~ 9999 |
| 量測模式 | |
| | R/Q, C/D, C/R, L/Q |
| 等效電路 | |
| | 具串聯(lián)與并聯(lián)兩種方式可供選擇 |
| 記憶體 | |
| | 100 組 |
| 平均測試值 | |
| | 1 to 255 次 |
| 量測速度 | |
| | 慢速、中速及快速 |
| 量測值顯示 | |
| | Value, △%, △ |
| 顯示幕 | |
| | 240 x 128 dot matrix C.C.F.L back light LCD |
| 介面 | |
| | Handler 介面 (LCR-829/827) |
| 使用電源 | |
| | 100V ~ 240V, 50/60Hz |
| 附件 | |
| | 電源線 x 1, |
| 尺寸及重量 | |
| | 330(寬) x 149(高) x 437(長)mm |


































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