NexION^® 1000 ICP-MS是一款專為高通量常規(guī)實(shí)驗(yàn)室打造的多元素、痕量分析儀器，它非常適合用于常規(guī)的日常分析，滿足各類法規(guī)和標(biāo)準(zhǔn)的檢測(cè)需求，同時(shí)在購買成本方面也能符合您的預(yù)期。一系列的技術(shù)使之具分析速度快、操作簡便等優(yōu)勢(shì)，可以大大提高您的實(shí)驗(yàn)室運(yùn)行效率。

PerkinElmer ICP-MS 技術(shù)的和PerkinElmer公司是ICP-MS技術(shù)的，也是ICP-MS技術(shù)革新的。1983年珀金埃爾默公司研制開發(fā)出世界上臺(tái)用于商業(yè)的ELAN® 250型ICP-MS，1987年又相繼推出一臺(tái)耐HF酸進(jìn)樣系統(tǒng)的ELAN® 500，臺(tái)加強(qiáng)型渦輪分子泵的ELAN® 5000，1994年推出一臺(tái)具有雙模式檢測(cè)器可自動(dòng)延伸檢測(cè)范圍功能的ELAN® 6000型ICP-MS系統(tǒng)，同時(shí)也是款采用一體化離子透鏡并可自動(dòng)優(yōu)化透鏡電壓的ICP-MS。

在強(qiáng)調(diào)高效的高通量分析實(shí)驗(yàn)室，分析效率極為關(guān)鍵。大眾對(duì)食品、水質(zhì)、醫(yī)藥以及日化品中采用納米技術(shù)的安全性的關(guān)注日益增加，今天的分析實(shí)驗(yàn)室需要在滿足嚴(yán)格的法規(guī)要求的同時(shí)，也需要具有高效率、低成本的生產(chǎn)能力?，F(xiàn)在，為您帶來專注于效率的ICP-MS產(chǎn)品。NexION 1000 ICP-MS，理想的高通量元素分析系統(tǒng)，它具有的痕量元素分析和多元素同時(shí)分析性能，滿足各類法規(guī)要求。NexION 1000 ICP-MS，配備的PerkinElmer 通用池技術(shù)，在一個(gè)通道內(nèi)以混合氣體既可實(shí)施碰撞干擾消除，也可實(shí)施反應(yīng)模式干擾消除，無需氣體切換。實(shí)現(xiàn)高效簡單的快速干擾去除。它還具有智能電子稀釋技術(shù)，輕松實(shí)現(xiàn)一次進(jìn)樣主量元素和痕量元素同時(shí)分析。三錐接口和四極桿離子偏轉(zhuǎn)器結(jié)合，輔以預(yù)置在Syngistix軟件中常規(guī)分析方法，讓您操作更簡單，維護(hù)更少，帶來更快和更準(zhǔn)確的分析結(jié)果，讓您的分析具有更大的信心。

的檢出能力 強(qiáng)健的干擾去除技術(shù) 

第二代四極桿通用池，配備梯度軸向加速技術(shù)，在確保去除干擾獲得可信的數(shù)據(jù)的同時(shí)，將為您提供的分析速率。三種分析模式—標(biāo)準(zhǔn)、碰撞和反應(yīng)模式，將碰撞池的簡便與反應(yīng)池的*功能結(jié)合在一起。不僅如此，碰撞模式和反應(yīng)模式無需氣體切換更為高效，無需延遲。NexION 1000，采用業(yè)界的三組四極桿組成的電感耦合等離子體質(zhì)譜平臺(tái)，確保有效去除質(zhì)譜和非質(zhì)譜干擾的同時(shí)，保證儀器的簡單易用性和異乎尋常的穩(wěn)定性。四極桿離子偏轉(zhuǎn)器，有效去除未電離物質(zhì)，有效增加儀器穩(wěn)定性，減少維護(hù)需求332121 未電離物質(zhì)三重四極桿——一次進(jìn)樣，所有元素獲得信背比三錐系統(tǒng)（采樣錐、截取錐、超級(jí)截取錐）帶來超群穩(wěn)定性NexION 1000是市場(chǎng)上維護(hù)需求的ICP-MS. 

專注于結(jié)果 幾乎無需維護(hù)的ICP-MS 

NexION 1000 ICP-MS 帶來更多的分析時(shí)間和最少的維護(hù)需要，是業(yè)界維護(hù)需求的ICP-MS：? 的LumiCoil™ 技術(shù)，等離子體耦合效率更高，不再需要水冷或氣冷以及清潔，壽命更長，無需維護(hù)。? 三錐接口（Triple Cone Interface）–大孔徑錐口和的超級(jí)截取錐設(shè)計(jì)，實(shí)現(xiàn)更好的基質(zhì)耐受性和業(yè)界離子 束。三錐位于真空腔外，維護(hù)快速簡單。? 四極桿離子偏轉(zhuǎn)器（Quadrupole Ion Deflector）– 創(chuàng)造性的 90度離子偏轉(zhuǎn)技術(shù)， QID 是業(yè)界可同時(shí)進(jìn)行離子選 擇和不帶電物質(zhì)去除的設(shè)計(jì)。QID 實(shí)現(xiàn)對(duì)目標(biāo)離子進(jìn)行選擇，減少質(zhì)譜干擾；對(duì)不帶電物質(zhì)去除，實(shí)現(xiàn)更低的背景， 使儀器具有的穩(wěn)定性。