Notebook 測(cè)試規(guī)格 : 磁盤(pán)片插入、退出試驗(yàn)。 光驅(qū)插入、退出試驗(yàn)。 PCMCIA 插入、退出試驗(yàn)。 電池插入、退出試驗(yàn)。 各種接頭插入、退出試驗(yàn)。 PRINT 埠、 COM 埠、 USB 、 PS2 等等 桌面放落試驗(yàn) 。 測(cè)試規(guī)格 ： 天線(xiàn)上、下抽取試驗(yàn)。 天線(xiàn)彎曲試驗(yàn)。 電池插入、拔出試驗(yàn)。 連接器插入、拔出壽命試驗(yàn)。 ON 、 OFF 開(kāi)關(guān)機(jī)壽命試驗(yàn)。 上蓋打開(kāi)、關(guān)閉壽命試驗(yàn)。 短距離落下壽命試驗(yàn)。 SIM 卡插入、拔出壽命試驗(yàn)。 PDA 測(cè)試規(guī)格 ： CF 卡插拔耐久試驗(yàn)。 Battery 蓋插、拔耐久試驗(yàn)。 DC 插頭耐久試驗(yàn)。 連接器插、拔耐久試驗(yàn)。 筆插拔耐久試驗(yàn)。 觸控屏幕摩擦耐久試驗(yàn)。 ON 、 OFF 開(kāi)關(guān)機(jī)耐久試驗(yàn)。
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