離子污染測(cè)試儀適用于檢測(cè)電子元器件/電路板/電路板組

介紹新的和改進(jìn)的，6西格瑪認(rèn)證的CM+系列-業(yè)界*的，獲獎(jiǎng)的和世界上**個(gè)聯(lián)合玫瑰和PICT離子污染測(cè)試儀。

雖然通常被稱(chēng)為“清潔度測(cè)試”，但污染計(jì)實(shí)際上是一種用來(lái)測(cè)量離子污染的工具。40多年來(lái)，這種測(cè)試方法一直被認(rèn)為是制造電子電路板、元件和組件的重要質(zhì)量保證和過(guò)程控制工具。

從歷*看,標(biāo)準(zhǔn)IPC-J-STD001表示,議會(huì)被清洗的值< 1.5µg / cm2等價(jià)。然而，新設(shè)計(jì)與Gen3系統(tǒng)引入的新過(guò)程控制度量相關(guān):過(guò)程離子污染測(cè)試(PICT)。CM+系列根據(jù)所有現(xiàn)有的測(cè)試方法(通常稱(chēng)為ROSE測(cè)試)和新的PICT測(cè)試來(lái)測(cè)量離子污染的量。

來(lái)自Gen3系統(tǒng)的CM+系列有5種不同的型號(hào)和5種不同的油箱尺寸——在選擇測(cè)試系統(tǒng)時(shí)，為被測(cè)電路使用盡可能小的油箱尺寸是很重要的。

所有的量程都使用了純金測(cè)試單元、彈道放大器和強(qiáng)有力的泵送系統(tǒng)，以確保即使在非常低的電導(dǎo)率值下也能獲得非常高的測(cè)量精度。基于PC的軟件用于生成圖形化的測(cè)試數(shù)據(jù)，通過(guò)/失敗分析，以及根據(jù)現(xiàn)行標(biāo)準(zhǔn)使用測(cè)試方法自動(dòng)打印出硬拷貝。

在與羅伯特·博世的合作研究中，CM+范圍已被證明符合6西格瑪標(biāo)準(zhǔn)，在不同的生產(chǎn)地點(diǎn)使用驗(yàn)證程序。作為一個(gè)過(guò)程工具，CM+系統(tǒng)可以用于優(yōu)化制造技術(shù)和材料，并在不同的生產(chǎn)現(xiàn)場(chǎng)進(jìn)行制造控制，具有很高的確定性。

新的CM+范圍包括以下內(nèi)容:

CM11+、CM22+、CM33+、CM33L+、CM60+、CMBBT+。

關(guān)鍵特性

六西格瑪(6σ)驗(yàn)證作為過(guò)程控制工具

3分鐘內(nèi)完成測(cè)試周期

高的流體循環(huán)速率，確保快速**PCBA中的離子污染物，同時(shí)始終提供平穩(wěn)、無(wú)氣泡的循環(huán)

*的曲線(xiàn)擬合分析算法(擬合的優(yōu)點(diǎn))預(yù)測(cè)較長(zhǎng)試驗(yàn)的結(jié)果

*的純金測(cè)量單元，彈道放大器，測(cè)試精度<0.005mS/cm

**測(cè)量，即使測(cè)試溶液占被測(cè)表面面積的比例很大

二氧化碳補(bǔ)償功能，消除大氣污染對(duì)污染結(jié)果的任何影響

自動(dòng)溫度補(bǔ)償

通常在6分鐘內(nèi)*恢復(fù)

全新系列PCB/元件處理架，集成排水系統(tǒng)

措施符合所有和MIL規(guī)格的新ox-sizing:border-box;margin-top:0px;margin-bottom:0px;padding:0px;min-height:26px;line-height:26px;color:#333333;font-family:Arial, "Microsoft YaHei", "5FAE軟雅黑", "5B8B體", "Malgun Gothic", Meiryo, sans-serif;font-size:14px;font-variant-numeric:normal;font-variant-east-asian:normal;text-align:justify;white-space:normal;background-color:#F7F8FA;">所有CM+系統(tǒng)的測(cè)量重復(fù)性和可靠性都達(dá)到了2%

CM+系列系統(tǒng)具有*的精度、靈敏度、線(xiàn)性度、精密度和重復(fù)性