
- 20秒內獲得高準確度的結果(例如:低合金鋼)- 定期維護的工作量(火花臺清洗)減少8倍
- 元素在低合金鋼中平均檢測限改善2倍,元素在純鋁中的平均檢測限改善5倍
- 儀器的占地面積減少27%
- 單一標樣實現(xiàn)整個系統(tǒng)的標準化, 此項每天可節(jié)省30分鐘工作時間
作為電弧/火花創(chuàng)新技術的,40多年來,SPECTRO全心投入開發(fā)的發(fā)射光譜儀。今天,斯派克公司完美引入CMOS探測器技術,*改變了電弧/火花分析技術的走向及未來。在所有同類分析儀中,SPECTROLAB S所提供分析速度超出想象,元素檢測限低*限,同時她也可以提供超長的正常運行時間和非常具有前瞻性的靈活性。
SPECTROLAB S 擁有世界上個基于CMOS的探測器的記錄系統(tǒng),該系統(tǒng)非常適合于金屬分析。從微量元素到多基體應用,它提供了極其快速、高度準確、異常靈活的技術選擇。
樣品的分析速度是儀器*性的重要標志,SPECTROLAB S的推出*了金屬分析市場對速度的需求。例如:當檢測低合金鋼時,它可以在20秒或更短的時間內提供高準確度的測量值!
從技術指標和實際使用效果看,SPECTROLAB S均是目前金屬冶煉廠的、高性能的光譜儀。對于金屬再加工生產(chǎn)商、汽車和航空航天制造商、以及成品和半成品、電子產(chǎn)品、半導體等制造商來說,她給出的解決方案同樣出色。

































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