X-Strata920鍍層測(cè)厚儀行業(yè)覆蓋率高

X-Strata920系列X射線熒光測(cè)厚儀能夠測(cè)量多種幾何形狀、各種尺寸的樣品；并且測(cè)量點(diǎn)小可

達(dá)0.025 x 0.051毫米。

X-Strata920系列采用開槽式樣品室，如左圖示(圖為程控

樣品臺(tái))。它可提供三種規(guī)格的樣品臺(tái)供用戶選用，分別

為：

?標(biāo)準(zhǔn)樣品臺(tái)：XY軸手動(dòng)控制、Z軸自動(dòng)控制。

?加深臺(tái)：可調(diào)高度型標(biāo)準(zhǔn)樣品臺(tái)，XY軸手動(dòng)控制、

Z軸自動(dòng)控制。

?程控樣品臺(tái)：XYZ軸自動(dòng)控制。

儀器原理及測(cè)量方法介紹

● 1.熒光X射線微小面積鍍層厚度測(cè)量?jī)x的特征

? 可測(cè)量電鍍、蒸鍍、離子鍍等各種金屬鍍層的厚度。

? 可通過(guò)CCD攝像機(jī)來(lái)觀察及選擇任意的微小面積以進(jìn)行微小面積鍍層厚度的測(cè)量，避免直

接接觸或破壞被測(cè)物。

? 薄膜FP法軟件是標(biāo)準(zhǔn)配置，可同時(shí)對(duì)多層鍍層及全金鍍層厚度和成分進(jìn)行測(cè)量。此外，適

用于無(wú)鉛焊錫的應(yīng)用。

? 備有250種以上的鍍層厚度測(cè)量和成分分析時(shí)所需的標(biāo)準(zhǔn)樣品。

● 2.測(cè)量原理

物質(zhì)經(jīng)X射線或粒子射線照射后，由于吸收多余的能量而變成不穩(wěn)定的狀態(tài)。從不穩(wěn)定狀態(tài)要回到穩(wěn)定狀態(tài)，此物質(zhì)必需將多余的能量釋放出來(lái)，而此時(shí)是以熒光或光的形態(tài)被釋放出來(lái)。熒光X射線鍍層厚度測(cè)量或成分分析儀的原理就是測(cè)量這被釋放出來(lái)的熒光的能量及強(qiáng)度，來(lái)進(jìn)行定性和定量分析。

X-Strata920鍍層測(cè)厚儀行業(yè)覆蓋率高