【儀器簡介】

 X射線熒光光譜儀具有重現(xiàn)性好，測量速度快，靈敏度高的特點(diǎn)。能分析F(9)～U(92)之間所有元素。樣品可以是固體、粉末、熔融片，液體等，分析對象適用于煉鋼、有色金屬、水泥、陶瓷、石油、玻璃等行業(yè)樣品。無標(biāo)半定量方法可以對各種形狀樣品定性分析，并能給出半定量結(jié)果，結(jié)果準(zhǔn)確度對某些樣品可以接近定量水平，分析時(shí)間短。薄膜分析軟件FP-MULT1能作鍍層分析，薄膜分析。測量樣品的大尺寸要求為直徑51mm，高40mm。 

【儀器名稱】掃描型X射線熒光光譜儀（XRF）

【型號(hào)】日本電子JSX-3400R

【生產(chǎn)廠家】日本電子株式會(huì)社

【主要特點(diǎn)】液氮制冷型探頭、世界探頭等分辨率、同等時(shí)間內(nèi)檢出限度、測試時(shí)間短、各類優(yōu)異軟件、能量過濾裝置等。該產(chǎn)品世界各地，在同類型產(chǎn)品中性能，其穩(wěn)定優(yōu)異性能深受廣大用戶的好評與青睞。 

【主要應(yīng)用領(lǐng)域】電子行業(yè)、機(jī)械制造、醫(yī)療衛(wèi)生、生態(tài)研究、 冶金有色、食品工業(yè)和商業(yè)、珠寶首飾、地質(zhì)勘探、煤炭、造紙、建材行業(yè)、考古、商檢、電鍍行業(yè)、鋼鐵行業(yè)、石化、稀土、石英砂、金鋼砂、陶瓷等許多領(lǐng)域得到了越來越廣泛的應(yīng)用。 

上海材料研究所等機(jī)構(gòu)加強(qiáng)合作，引進(jìn)新服務(wù)項(xiàng)目，并對原有項(xiàng)目進(jìn)行優(yōu)化，為客戶提供跨行業(yè)免費(fèi)增值服務(wù)。不僅如此，我公司還積極為客戶深度定制個(gè)性化的技術(shù)解決方案，幫助企業(yè)查找問題，把握產(chǎn)品質(zhì)量關(guān)。公司的發(fā)展需要客戶及同行的支持，您們的滿意是我們大的動(dòng)力！