摘要 激光干涉儀檢測設(shè)備誤差，降低零件報(bào)廢率，憑借“源頭控?fù)p、一機(jī)多用、長期耐用”的核心優(yōu)勢，通過預(yù)防性維護(hù)，提前檢測設(shè)備誤差并補(bǔ)償，將零件報(bào)廢率降至0.1%以下，此項(xiàng)每年可為企業(yè)節(jié)省百萬級返工與物料成本，投入回報(bào)比高。

摘要立式接觸式干涉儀庫號：M413676立式接觸式干涉儀（中西器材） 型號:JDS-1庫號：M413676 查看hh立式接觸式干涉儀型號：JDS-1立式接觸式干涉儀JDS-1主要用于150mm以下塊規(guī)，亦可用作長度和外徑的測量，是各級計(jì)量室常備的基本長度計(jì)量儀器技術(shù)參...

摘要 prometec PD2000

摘要 （1） 邁克爾遜干涉儀的調(diào)整與使用（2） 空氣折射率的測定

摘要白光干涉3D形貌測量儀具有專業(yè)的測量能力，可在幾秒內(nèi)就完成整個(gè)視場的掃描得到測量樣品的3D圖形與高度數(shù)據(jù)，檢測速度與深度量測能力優(yōu)于逐點(diǎn)逐面掃描的共焦掃描顯微鏡，3D圖形量測能力又優(yōu)于掃描式電子顯微鏡的2D平面檢測能力，且不需要使用電子束或雷射，開機(jī)快又安全，維護(hù)成本...

摘要 一、簡介： CL-6激光干涉儀以光波為載體，其光波波長可對米進(jìn)行定義，且溯源至國家標(biāo)準(zhǔn)，是迄今的高精度、高靈敏度的測量儀器，在高速采集、高動(dòng)態(tài)同步觸發(fā)等應(yīng)用方面，優(yōu)...

摘要應(yīng)用領(lǐng)域： PRB系列白光干涉三維形貌儀是采用國外的白光干涉掃描技術(shù)研制的納米量級形貌測量儀器，透過精密的掃描系統(tǒng)和自主的解析算法，進(jìn)行樣品表面微細(xì)形貌的量測與分析。表面顯微成像能力與高精度測量的結(jié)合，只需數(shù)秒鐘，就能觀測到表面的三維輪廓、臺(tái)階高度、表面紋理、微觀尺寸...

摘要 美國Artium 激光相位多普勒干涉儀LDV，PDI，PDPA，PDA

摘要 產(chǎn)品簡介光干涉甲烷測定器校正儀是采用壓力連通器原理研制的

摘要 MicroXAM800 白光干涉儀

摘要 激光干涉光刻機(jī)

摘要 GJX-2光干涉甲烷測定器校正儀產(chǎn)品簡介鄭州華致科技有限公司生產(chǎn)的GJX-2型光干涉甲烷檢定器校正儀是采用壓力連通器原理研制的

摘要 立式球面激光干涉儀VT750 / VT1000 / VT1200是德國XONOX公司生產(chǎn)的4或6英寸球面激光干涉儀，采用立式測量結(jié)構(gòu)，更適合于車間現(xiàn)場測量使用。

摘要白光干涉儀采用白光干涉測量傳感器，其垂直分辨率可達(dá)0.1nm詳細(xì)技術(shù)參數(shù)：測量原理:白光干涉測量；測量物鏡10X 20X 50X垂直測量范圍：100um(400um可選)垂直分辨率 0.1nm；X,Y測量范圍:1.6X1.2mm 0.8X0.6mm 0.32X0.24...

摘要 德國LT公司研發(fā)生產(chǎn)的激光干涉儀，用于光學(xué)零件的面形檢測；測量口徑：100mm（4英寸）；150mm（6英寸）；300mm（12英寸）

摘要 德國LT公司研發(fā)生產(chǎn)的激光干涉儀，主要用于光學(xué)零件的面形檢測。測量口徑有100mm（4英寸）, 150mm（6英寸）, 300mm（12英寸）

摘要 德國LT公司研發(fā)生產(chǎn)的激光干涉儀，用于光學(xué)零件的面形檢測；測量口徑：100mm（4英寸）；150mm（6英寸）；12英寸（300mm）

摘要 D7型λ/1000超高精度激光干涉儀，設(shè)計(jì)緊湊、用戶界面友好，0.6nm的測量精度

摘要 SJ6000激光干涉儀直供，工程師現(xiàn)場完成設(shè)備定位，設(shè)備集光、機(jī)、電技術(shù)于一體，各項(xiàng)核心參數(shù)均達(dá)到行業(yè)水平。

摘要 雷尼紹激光干涉儀 高分辨率檢測設(shè)備 精度高雷尼紹XL-80激光干涉儀是英國雷尼紹公司推出的高精度運(yùn)動(dòng)系統(tǒng)測量與校準(zhǔn)設(shè)備，以精準(zhǔn)、便攜、高效著稱，常用于機(jī)床、坐標(biāo)測量機(jī)(CMM)等運(yùn)動(dòng)系統(tǒng)的性能檢測與誤差補(bǔ)償，助力提升設(shè)備精度與生產(chǎn)質(zhì)量。

摘要 產(chǎn)品詳情XDLaser激光干涉儀是API公司的產(chǎn)品，一次安裝即可測得6個(gè)參數(shù)，包括1個(gè)位置度誤差、2個(gè)直線度誤差和3個(gè)角度誤差

摘要 原理：在激光干涉儀進(jìn)行透射測量時(shí)，激光光源發(fā)出的單色光,垂直向下經(jīng)過被檢元件上、下兩表面被標(biāo)準(zhǔn)反射鏡反射后會(huì)形成干涉條紋，每個(gè)點(diǎn)上所生的干涉條紋取決于該點(diǎn)上兩相干的光的光程差

摘要 光干涉透射法檢測元件厚度差的原理：在激光干涉儀進(jìn)行透射測量時(shí)，激光光源發(fā)出的單色光,垂直向下經(jīng)過被檢元件上、下兩表面被標(biāo)準(zhǔn)反射鏡反射后會(huì)形成干涉條紋，每個(gè)點(diǎn)上所生的干涉條紋取決于該點(diǎn)上兩相干的光的光程差

摘要 D7型λ/1000超高精度激光干涉儀，設(shè)計(jì)緊湊、用戶界面友好，0.6nm的測量精度

摘要 光干涉透射法檢測元件厚度差的原理：在激光干涉儀進(jìn)行透射測量時(shí)，激光光源發(fā)出的單色光,垂直向下經(jīng)過被檢元件上、下兩表面被標(biāo)準(zhǔn)反射鏡反射后會(huì)形成干涉條紋，每個(gè)點(diǎn)上所生的干涉條紋取決于該點(diǎn)上兩相干的光的光程差

摘要 原理：在激光干涉儀進(jìn)行透射測量時(shí)，激光光源發(fā)出的單色光,垂直向下經(jīng)過被檢元件上、下兩表面被標(biāo)準(zhǔn)反射鏡反射后會(huì)形成干涉條紋，每個(gè)點(diǎn)上所生的干涉條紋取決于該點(diǎn)上兩相干的光的光程差

摘要API公司是由kam lau博士在自主磚利技術(shù)上基礎(chǔ)之上創(chuàng)立的一家高科技公司。API公司位于美國國家標(biāo)準(zhǔn)與技術(shù)研究院NIST附近。API的激光跟蹤儀廣泛應(yīng)用與汽車制造、航空航天、船舶制造、工程安裝、石油制造、風(fēng)電核電等行業(yè)。XD Laser™激光干涉儀是A...

摘要XL80雷尼紹激光干涉儀主要功能：激光干涉儀的基本配置可以完成數(shù)控機(jī)床三軸的定位精度、重復(fù)定位精度、反向間隙的定位和測量。XL80雷尼紹激光干涉儀增加相應(yīng)的測量鏡組，可以完成數(shù)控機(jī)床三軸的水平和垂直方向的偏擺和仰俯角度的測量，還可以完成平面度、直線度、垂直度的測量。增...

摘要XD Laser 激光干涉儀體積小，重量輕，可以直接安裝到機(jī)床導(dǎo)軌上，XD Laser™激光干涉儀主要由穩(wěn)頻激光器，干涉鏡和6D傳感器組成，從激光發(fā)出的激光光束經(jīng)過干涉后，被6D傳感器內(nèi)的分光鏡分成三束，一束光經(jīng)維角反射棱鏡反射后返回干涉干涉儀與參考光束相...

摘要 SJ6000高分辨力激光干涉儀利用激光干涉現(xiàn)象來實(shí)現(xiàn)非接觸式測量，具有高精度、高分辨率、快速測量等優(yōu)點(diǎn)。結(jié)合不同的光學(xué)鏡組，可實(shí)現(xiàn)線性測長、角度、直線度、垂直度、平行度、平面度等幾何參量的高精度測量。

摘要 XM-60是一款激光測量系統(tǒng)，只需一次設(shè)定即可沿線性軸同時(shí)測量6個(gè)自由度的誤差

摘要 激光干涉儀以光波為載體，其光波波長可以直接對米進(jìn)行定義，且可以溯源至國家標(biāo)準(zhǔn)，是迄今的高精度、高靈敏度的測量儀器，在制造領(lǐng)域應(yīng)用廣泛。

摘要 D7型λ/1000超高精度激光干涉儀，設(shè)計(jì)緊湊、用戶界面友好，0.6nm的測量精度

摘要Difrotec 在光學(xué)測試方面開發(fā)了一項(xiàng)突破性技術(shù)Difrotec 在光學(xué)測試方面開發(fā)了一項(xiàng)突破性技術(shù)Difrotec是超高精度光學(xué)表面貼圖的。我們在光學(xué)系統(tǒng)和光學(xué)圖像處理的數(shù)學(xué)建模，開發(fā)用于DUV和EUV光刻的高精度光學(xué)系統(tǒng)的組裝，調(diào)整和測試的計(jì)算機(jī)模型的開發(fā)方面...

摘要 SJ6000精密激光干涉儀器利用激光干涉現(xiàn)象來實(shí)現(xiàn)非接觸式測量，具有高精度、高分辨率、快速測量等優(yōu)點(diǎn)。結(jié)合不同的光學(xué)鏡組，可實(shí)現(xiàn)線性測長、角度、直線度、垂直度、平行度、平面度等幾何參量的高精度測量。

摘要 1、激光平面干涉儀的主要用途和特點(diǎn)

摘要 SuperViewW3白光干涉儀

摘要 SJ6000激光干涉儀

摘要 SJ6800激光干涉儀

摘要SWIM-1510MS干涉儀掃描白光干涉顯微儀產(chǎn)品特點(diǎn)及用途結(jié)合光學(xué)顯微鏡與白光干涉儀功能的掃描式白光干涉顯微鏡，結(jié)合顯微物鏡與干涉儀、不需要復(fù)雜光調(diào)整程序，兼顧體積小、納米分辨率、易學(xué)易用等優(yōu)點(diǎn)，可提供垂直掃描高度達(dá)400um的微三維測量，適合各種材料與微組件表面特...

摘要 詳細(xì)信息1.產(chǎn)品簡介　　激光干涉儀以光波為載體，其光波波長可以直接對米進(jìn)行定義，且可以溯源至國家標(biāo)準(zhǔn)，是迄今的高精度、高靈敏度的測量儀器，在制造領(lǐng)域應(yīng)用廣泛

摘要 API XD激光干涉儀可以一次裝夾測量六個(gè)參數(shù)包括定位精度、重復(fù)定位精度、直線度及角度。用于數(shù)控機(jī)床和三座標(biāo)測量機(jī)的標(biāo)定及校準(zhǔn)。通常時(shí)間需數(shù)天進(jìn)行的測試，使用API激光干涉儀只需幾個(gè)小時(shí)即可完成。實(shí)際應(yīng)用結(jié)果表明：可節(jié)省時(shí)間高達(dá)80%。

摘要 XL-80系統(tǒng)快速、精確，而且非常輕便，因此它成為銷量*好的激光校準(zhǔn)系統(tǒng)絲毫不足為奇。XL-80采用*的軟件解決方案，具有優(yōu)異的性能，可以幫助您顯著提高企業(yè)效益。

摘要 英國雷尼紹激光干涉儀 高精度校準(zhǔn)測量儀雷尼紹激光干涉儀XL80憑借精確穩(wěn)定的激光源和精準(zhǔn)的環(huán)境補(bǔ)償技術(shù)，實(shí)現(xiàn)了±0.5 ppm的高線性測量精度。其數(shù)據(jù)讀取頻率高達(dá)50 kHz，線性測量速度更可達(dá)4 m/s，即便在高速狀態(tài)下，線性分辨率仍能保持1nm。

摘要 SJ6000機(jī)床激光干涉檢測儀利用激光干涉現(xiàn)象來實(shí)現(xiàn)非接觸式測量，具有高精度、高分辨率、快速測量等優(yōu)點(diǎn)。結(jié)合不同的光學(xué)鏡組，可實(shí)現(xiàn)線性測長、角度、直線度、垂直度、平行度、平面度等幾何參量的高精度測量。