摘要高天試驗(yàn)設(shè)備有限公司長(zhǎng)期現(xiàn)貨供應(yīng)標(biāo)準(zhǔn)光源對(duì)色燈箱
一、適用范圍 標(biāo)準(zhǔn)光源對(duì)色燈箱應(yīng)用于紡織、印染、塑膠、油漆、油墨、印刷、顏料、噴涂、化工、陶瓷、鞋材、皮革、五金、拉鏈、化工、家具、電器、包裝、化妝品等各行各業(yè)的顏色管理領(lǐng)域，用于校對(duì)貨品的顏色偏差，提高產(chǎn)品質(zhì)量及市場(chǎng)競(jìng)爭(zhēng)力。

摘要溫度沖擊試驗(yàn)箱三箱式用來(lái)測(cè)試材料結(jié)構(gòu)或復(fù)合材料，在瞬間下經(jīng)*溫及極低溫的連續(xù)環(huán)境下所能忍受的程度, 藉以在短時(shí)間內(nèi) 試驗(yàn)其因熱脹冷縮所引起的化學(xué)變化或物理傷害.適用的對(duì)象包括金屬,塑料,橡膠, 電子、太陽(yáng)能、LED、PCB、LCD....等材料,可作為其產(chǎn)品改進(jìn)的依據(jù)或參考

摘要 研究院冷熱沖擊試驗(yàn)箱是材料研發(fā)、產(chǎn)品可靠性分析專用的精密環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備，主要用于模擬高低溫瞬間交替變化的工況，檢測(cè)試樣在劇烈溫度沖擊下的結(jié)構(gòu)耐受性與性能穩(wěn)定性，廣泛應(yīng)用于新材料研發(fā)、電子元器件、航空航天、精密零部件等科研檢測(cè)領(lǐng)域。

摘要 冷熱沖擊試驗(yàn)箱廠家的冷熱沖擊試驗(yàn)箱是指能同時(shí)施加溫度、濕度應(yīng)力的試驗(yàn)箱。由制冷系統(tǒng)、加熱系統(tǒng)、控制系統(tǒng)、溫度和傳感器系統(tǒng)等組成。

摘要 本系更高低溫沖擊試驗(yàn)箱是航空、汽車、家電、科研等領(lǐng)域的測(cè)試設(shè)備，該產(chǎn)品適用于電子元?dú)饧陌踩阅軠y(cè)試提供可靠性試驗(yàn)、產(chǎn)品篩選試驗(yàn)等，同時(shí)通過(guò)此裝備試驗(yàn)，可提高產(chǎn)品的可靠性和進(jìn)行產(chǎn)品的質(zhì)量控制

摘要半導(dǎo)體與元器件復(fù)層式恒溫恒濕箱采用上下雙層獨(dú)立腔體設(shè)計(jì)，每層配備獨(dú)立溫濕度調(diào)節(jié)系統(tǒng)，可同步運(yùn)行不同工況（如上層85℃/85%RH、下層-40℃低溫存儲(chǔ)）。覆蓋-40℃~+150℃、20%~98%RH，溫度波動(dòng)≤±0.5℃、濕度波動(dòng)≤±2%RH。符合...

摘要 設(shè)備還可提供標(biāo)準(zhǔn)高低溫試驗(yàn)功能，實(shí)現(xiàn)了溫度沖擊和高低溫試驗(yàn)的共同兼容；高強(qiáng)度、高可靠性的結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì)- 確保了設(shè)備的高可靠性；

摘要高壓線束總成冷熱沖擊試驗(yàn)箱面向新能源汽車高壓線束總成、連接器及屏蔽線纜驗(yàn)證，采用提籃式雙艙結(jié)構(gòu)，吊籃升降切換≤10s，恢復(fù)≤5min。覆蓋-40℃~+125℃車規(guī)工況及-65℃~+150℃寬溫區(qū)，標(biāo)配多芯大口徑引線孔，支持帶載測(cè)絕緣電阻與接觸壓降。符合GB/T 242...

摘要大功率功率模組冷熱沖擊試驗(yàn)箱面向IGBT/SiC功率模塊、整流橋堆及大電流驅(qū)動(dòng)板驗(yàn)證，采用提籃式兩箱結(jié)構(gòu)，吊籃升降切換≤10s，恢復(fù)≤5min。覆蓋-55℃~+125℃（GJB 360B）及-65℃~+150℃寬溫區(qū)，支持主端子通電測(cè)Vf/ESR。符合GB/T 242...

摘要大功率功率模組冷熱沖擊試驗(yàn)箱面向IGBT/SiC功率模塊、整流橋堆及大電流驅(qū)動(dòng)板驗(yàn)證，采用提籃式兩箱結(jié)構(gòu)，吊籃升降切換≤10s，恢復(fù)≤5min。覆蓋-55℃~+125℃（GJB 360B）及-65℃~+150℃寬溫區(qū)，支持主端子通電測(cè)Vf/ESR。符合GB/T 242...

摘要光伏監(jiān)控采集模塊冷熱沖擊試驗(yàn)箱面向光伏電站數(shù)據(jù)采集模塊、RS485/MBus采集器及無(wú)線監(jiān)測(cè)終端整機(jī)驗(yàn)證。提籃式結(jié)構(gòu)實(shí)現(xiàn)高低溫室快速切換，轉(zhuǎn)換≤10s、恢復(fù)≤5min，覆蓋-40℃~+85℃戶外工況及-65℃~+150℃寬溫區(qū)，支持通訊端口帶電帶載監(jiān)測(cè)。符合GB/T ...

摘要光伏通訊網(wǎng)關(guān)冷熱沖擊試驗(yàn)箱面向光伏電站數(shù)據(jù)采集器、RS485/CAN/以太網(wǎng)網(wǎng)關(guān)及無(wú)線DTU整機(jī)驗(yàn)證。提籃式結(jié)構(gòu)實(shí)現(xiàn)高低溫室快速切換，轉(zhuǎn)換≤10s、恢復(fù)≤5min，覆蓋-40℃~+85℃戶外工況及-65℃~+150℃寬溫區(qū)，支持通訊端口帶電帶載監(jiān)測(cè)。符合GB/T 24...

摘要光伏匯流箱冷熱沖擊試驗(yàn)箱（兩箱式）面向匯流箱本體、直流斷路器、防雷模塊、霍爾電流傳感器及銅排端子驗(yàn)證。提籃結(jié)構(gòu)實(shí)現(xiàn)高低溫室快速切換，轉(zhuǎn)換≤10s、恢復(fù)≤5min，覆蓋-40℃~+85℃（戶外工況）及-65℃~+150℃寬溫區(qū)，支持直流端帶電監(jiān)測(cè)。符合GB/T 2423...

摘要焊帶冷熱沖擊試驗(yàn)箱，面向光伏涂錫銅焊帶、無(wú)鉛焊帶及異形互聯(lián)條可靠性驗(yàn)證，采用提籃式兩箱結(jié)構(gòu)，吊籃升降切換≤10s，恢復(fù)≤5min。覆蓋-40℃~+85℃（IEC 61215 MQT11 TC200）及-65℃~+150℃寬溫區(qū)，支持焊帶通電測(cè)電阻變化率。符合GB/T ...

摘要光伏電池小片冷熱沖擊試驗(yàn)箱（兩箱式）面向晶硅/薄膜電池切片段、疊瓦小片及焊帶互聯(lián)單元驗(yàn)證。提籃結(jié)構(gòu)實(shí)現(xiàn)高低溫室快速切換，轉(zhuǎn)換≤10s、恢復(fù)≤5min，覆蓋-40℃~+85℃（IEC 61215 TC）及-65℃~+150℃寬溫區(qū)，支持小片引線測(cè)IV參數(shù)。符合GB/T ...

摘要戶用儲(chǔ)能整機(jī)冷熱沖擊試驗(yàn)箱（兩箱式）面向PCS內(nèi)部IGBT模塊、直流支撐電容、電流傳感器、驅(qū)動(dòng)板及風(fēng)扇電源等零部件驗(yàn)證。提籃式結(jié)構(gòu)實(shí)現(xiàn)高低溫室快速切換，轉(zhuǎn)換≤10s、恢復(fù)≤5min，覆蓋-55℃~+125℃（GJB 360B）及-65℃~+150℃寬溫區(qū)，支持引腳通電...

摘要儲(chǔ)能PCS變流器冷熱沖擊試驗(yàn)箱（三箱式）面向儲(chǔ)能變流器整機(jī)、IGBT功率模塊及濾波電容可靠性驗(yàn)證，采用高/低溫室+測(cè)試室獨(dú)立結(jié)構(gòu)，樣品靜置無(wú)振動(dòng)。覆蓋-40℃~+85℃戶外工況及-65℃~+150℃寬溫區(qū)，氣動(dòng)風(fēng)門(mén)切換≤10s，恢復(fù)≤5min，支持AC/DC端帶電帶載...

摘要光伏逆變器冷熱沖擊試驗(yàn)箱（三箱式）面向組串/集中式逆變器、儲(chǔ)能變流器整機(jī)驗(yàn)證，采用高溫室、低溫室、測(cè)試室三箱獨(dú)立結(jié)構(gòu)，樣品靜置無(wú)機(jī)械振動(dòng)，規(guī)避吊籃沖擊對(duì)IGBT及電容的損傷。覆蓋-40℃~+85℃戶外工況，支持AC輸出端帶電帶載監(jiān)測(cè)。符合GB/T 2423.22、IE...

摘要儲(chǔ)能變流器元器件冷熱沖擊試驗(yàn)箱面向PCS內(nèi)部IGBT模塊、薄膜電容、電流傳感器及驅(qū)動(dòng)板卡驗(yàn)證，采用提籃升降兩箱結(jié)構(gòu)，轉(zhuǎn)換≤10s、恢復(fù)≤5min，覆蓋-40℃~+125℃車規(guī)與-65℃~+150℃寬溫區(qū)，支持功率端子帶電監(jiān)測(cè)。符合GB/T 2423.22、IEC 60...

摘要電容電阻冷熱沖擊試驗(yàn)箱（兩箱式）面向貼片電容、薄膜電容、線繞/薄膜電阻等被動(dòng)元件可靠性驗(yàn)證，采用提籃式兩箱結(jié)構(gòu)，吊籃往復(fù)切換實(shí)現(xiàn)≤10s轉(zhuǎn)溫、≤5min恢復(fù)。覆蓋-55℃~+125℃及-65℃~+150℃寬溫區(qū)，支持引腳通電測(cè)容值/阻值漂移。符合GB/T 2423.2...

摘要逆變器PCB電路板冷熱沖擊試驗(yàn)箱（兩箱式）面向光伏/儲(chǔ)能逆變器控制板、功率驅(qū)動(dòng)板及DC-DC模塊基板可靠性驗(yàn)證，采用提籃式兩箱結(jié)構(gòu)，吊籃轉(zhuǎn)換≤10s，恢復(fù)≤5min，覆蓋-40℃~+85℃及-65℃~+150℃溫區(qū)，支持在線通電測(cè)阻值/信號(hào)。符合GB/T 2423.2...

摘要功率IGBT冷熱沖擊試驗(yàn)箱（兩箱式）面向IGBT模塊、SiC功率器件及逆變封裝單元可靠性驗(yàn)證，采用提籃式兩箱結(jié)構(gòu)，伺服驅(qū)動(dòng)吊籃在高低溫室間快速轉(zhuǎn)移，轉(zhuǎn)換≤10s、恢復(fù)≤5min。覆蓋-55℃~+150℃（車規(guī)）及-65℃~+180℃寬溫區(qū)，支持Vce/Vf結(jié)溫在線監(jiān)測(cè)...

摘要旁路二極管冷熱沖擊試驗(yàn)箱（兩箱式）專為光伏組件旁路二極管、肖特基整流器件及微型封裝半導(dǎo)體可靠性驗(yàn)證設(shè)計(jì)，采用提籃式兩箱結(jié)構(gòu)，通過(guò)伺服驅(qū)動(dòng)吊籃在高低溫室間快速切換，轉(zhuǎn)換時(shí)間≤10s，恢復(fù)時(shí)間≤5min。覆蓋-40℃~+85℃（IEC 61215 TC200）及-65℃~...

摘要光伏接線盒冷熱沖擊試驗(yàn)箱專為光伏組件接線盒、旁路二極管及連接器可靠性驗(yàn)證設(shè)計(jì)，采用提籃式兩箱結(jié)構(gòu)，通過(guò)樣品架機(jī)械升降實(shí)現(xiàn)高低溫快速切換，溫度轉(zhuǎn)換時(shí)間≤10s。設(shè)備覆蓋-40℃~+85℃（IEC 61215 TC200）標(biāo)準(zhǔn)溫區(qū)，搭載冷平衡2.0節(jié)能技術(shù)，支持引線通電監(jiān)...

摘要BCM車身控制模塊冷熱沖擊試驗(yàn)箱面向車身控制器、車門(mén)控制模組及燈光繼電器盒等零部件研發(fā)設(shè)計(jì)，用于考核其在-40℃~+125℃寬溫區(qū)快速切換下的焊點(diǎn)疲勞、塑殼密封與線束接插可靠性。設(shè)備采用三箱式靜態(tài)結(jié)構(gòu)，支持帶載通電測(cè)試，搭載冷平衡2.0節(jié)能技術(shù)與PWM冷量伺服調(diào)節(jié)，符...

摘要T-Box車載終端冷熱沖擊試驗(yàn)箱面向車聯(lián)網(wǎng)終端、智能網(wǎng)聯(lián)盒子的溫度驟變可靠性驗(yàn)證，覆蓋-40℃~+125℃車規(guī)溫區(qū)并擴(kuò)展至-65℃~+150℃。采用三箱式靜態(tài)結(jié)構(gòu)，樣品無(wú)需吊移，規(guī)避機(jī)械振動(dòng)對(duì)T-Box通信模組干擾；標(biāo)配Φ100mm多芯引線孔，支持終端通電、C...

摘要座艙域控制器冷熱沖擊試驗(yàn)箱面向智能座艙域控、車載信息娛樂(lè)主機(jī)及儀表計(jì)算單元研發(fā)驗(yàn)證，覆蓋-40℃~+85℃乘客艙車規(guī)溫區(qū)并向下延伸至-65℃~+150℃設(shè)備能力邊界。采用三箱式靜態(tài)結(jié)構(gòu)，樣品無(wú)吊籃升降振動(dòng)，支持CAN/LVDS/以太網(wǎng)線束帶電引出測(cè)試。搭載冷平衡2.0...

摘要ADAS域控制器冷熱沖擊試驗(yàn)箱專為智能駕駛域控單元、車載計(jì)算平臺(tái)及毫米波雷達(dá)模組研發(fā)設(shè)計(jì)，用于驗(yàn)證其在-40℃~+125℃寬溫區(qū)切換的焊點(diǎn)可靠性與信號(hào)完整性。設(shè)備采用三箱式靜態(tài)測(cè)試結(jié)構(gòu)，規(guī)避機(jī)械振動(dòng)干擾，搭載冷平衡2.0節(jié)能技術(shù)與PWM冷量伺服調(diào)節(jié)，支持帶載通電測(cè)試，...

摘要PDU高壓配電單元冷熱沖擊試驗(yàn)箱專為新能源汽車高壓配電系統(tǒng)可靠性驗(yàn)證設(shè)計(jì)，適用于PDU、高壓線束及連接器的溫變測(cè)試。設(shè)備采用皓天鑫冷平衡2.0技術(shù)，實(shí)現(xiàn)-65℃~+150℃寬溫區(qū)精準(zhǔn)沖擊，標(biāo)配Φ100mm大口徑引線孔，滿足PDU高低壓線束同步測(cè)試需求。搭載中國(guó)...

摘要廣皓天 DC?DC 轉(zhuǎn)換器冷熱沖擊試驗(yàn)箱采用三箱式伺服風(fēng)門(mén)氣流切換結(jié)構(gòu)，被測(cè)器件保持靜止放置，規(guī)避機(jī)械震動(dòng)對(duì)電源轉(zhuǎn)換元器件帶來(lái)干擾。復(fù)刻車載與工業(yè)電源寬幅溫變工況，考察功率芯片、磁性元件、焊點(diǎn)經(jīng)受冷熱交變應(yīng)力表現(xiàn)，排查轉(zhuǎn)換效率下滑、輸出異常、磁件開(kāi)裂等隱患，適配電源類...

摘要OBC 車載充電機(jī)冷熱沖擊試驗(yàn)箱專門(mén)針對(duì) OBC 車載充電機(jī)可靠性驗(yàn)證開(kāi)發(fā)，采用獨(dú)立高溫艙、低溫艙、測(cè)試艙三艙分離結(jié)構(gòu)，模擬車載充電機(jī)在實(shí)車服役過(guò)程經(jīng)歷的驟冷驟熱溫度應(yīng)力環(huán)境，用來(lái)考核 OBC 整機(jī)、內(nèi)部功率器件、PCB 電路板、接插件、焊接位置，在劇烈溫度交變之下的...

摘要 廣皓天電機(jī)控制器冷熱沖擊試驗(yàn)箱采用三箱式伺服風(fēng)門(mén)切換結(jié)構(gòu),模擬新能源車輛高低溫驟變工況，考核功率板、功率器件、接插件與灌封層耐受熱應(yīng)力水平，排查接插件松脫、灌封開(kāi)裂、功率回路參數(shù)漂移等問(wèn)題，滿足車規(guī)測(cè)試要求，支持試驗(yàn)條件按需定制。

摘要廣皓天車載攝像頭模組冷熱沖擊試驗(yàn)箱采用三箱式伺服風(fēng)門(mén)控溫結(jié)構(gòu)，樣品全程靜置，規(guī)避機(jī)械晃動(dòng)損傷光學(xué)組件。模擬整車晝夜溫差、高低溫驟變工況，考核鏡頭、CMOS 感光芯片、FPC 排線及封裝膠體抗熱應(yīng)力能力，排查圖像噪點(diǎn)、虛焊脫膠、鏡頭偏移等故障，滿足車規(guī)檢測(cè)要求，支持試驗(yàn)...

摘要廣皓天毫米波雷達(dá)模組冷熱沖擊試驗(yàn)箱采用三箱式風(fēng)門(mén)驅(qū)動(dòng)結(jié)構(gòu)，測(cè)試工位樣品全程靜止，規(guī)避機(jī)械晃動(dòng)對(duì)雷達(dá)射頻電路造成干擾。復(fù)現(xiàn)自動(dòng)駕駛車載環(huán)境劇烈溫度交變工況，驗(yàn)證雷達(dá)高頻基板、射頻芯片與貼片焊層耐受熱應(yīng)力能力，排查頻點(diǎn)偏移、基板分層等故障，滿足車規(guī)測(cè)試要求，支持定制試驗(yàn)條...

摘要廣皓天 CIS 圖像傳感器冷熱沖擊試驗(yàn)箱采用三箱式伺服風(fēng)門(mén)切換架構(gòu)，樣品保持靜置狀態(tài)，規(guī)避機(jī)械振動(dòng)對(duì)感光芯片造成損傷。模擬車載攝像、工業(yè)成像設(shè)備溫度驟變工況，驗(yàn)證感光像素陣列、CMOS 晶圓、引線鍵合與封裝層抗熱應(yīng)力性能，排查像素失效、色彩偏移、封裝分層等問(wèn)題，支持試...

摘要廣皓天 MEMS 傳感器冷熱沖擊試驗(yàn)箱采用三箱式伺服風(fēng)門(mén)切換結(jié)構(gòu)，樣品靜置放置，規(guī)避機(jī)械振動(dòng)干擾。模擬車載、工業(yè)場(chǎng)景急劇溫變工況，考核 MEMS 微結(jié)構(gòu)、硅基芯片、封裝及焊盤(pán)耐受熱應(yīng)力能力，篩查微結(jié)構(gòu)斷裂、信號(hào)漂移、封裝脫層等失效現(xiàn)象，適配 MEMS 器件可靠性驗(yàn)證，...

摘要廣皓天車規(guī) Flash 冷熱沖擊試驗(yàn)箱，采用三箱式伺服風(fēng)門(mén)切換結(jié)構(gòu)，閃存芯片全程靜置測(cè)試，規(guī)避機(jī)械振動(dòng)帶來(lái)的樣品損傷。模擬車載復(fù)雜驟變溫場(chǎng)，檢驗(yàn)存儲(chǔ)芯片封裝、焊盤(pán)、存儲(chǔ)陣列耐受溫度交變應(yīng)力能力，篩查數(shù)據(jù)丟包、封裝脫層、電氣失效隱患，適配車規(guī)閃存可靠性驗(yàn)證，支持試驗(yàn)條件...

摘要 廣皓天隔離芯片冷熱沖擊試驗(yàn)箱采用吊籃移動(dòng)式兩箱結(jié)構(gòu)，針對(duì)隔離耦合芯片開(kāi)展溫度交變可靠性驗(yàn)證。模擬工業(yè)、車載場(chǎng)景溫度驟變工況，檢驗(yàn)隔離柵、封裝本體與引腳焊點(diǎn)在反復(fù)冷熱切換下的耐受能力，識(shí)別絕緣失效、封裝開(kāi)裂、參數(shù)偏移等潛在問(wèn)題，適配車規(guī)與工業(yè)級(jí)檢測(cè)需求，支持非標(biāo)定制。

摘要廣皓天 AFE 模擬前端冷熱沖擊試驗(yàn)箱采用吊籃移動(dòng)式兩箱結(jié)構(gòu)，面向 AFE 模擬前端芯片開(kāi)展溫度交變可靠性驗(yàn)證。復(fù)刻車載、工業(yè)場(chǎng)景溫度驟變工況，檢測(cè)芯片封裝、引腳、內(nèi)部電路在反復(fù)冷熱切換下的性能變化，及時(shí)暴露出參數(shù)偏移、封裝開(kāi)裂、焊點(diǎn)失效等隱患，適配車規(guī)級(jí)測(cè)試需求，支...

摘要尚立儀器供應(yīng)冷熱沖擊試驗(yàn)箱，提供本土化售后服務(wù)。TX-THS系列冷熱溫沖擊試驗(yàn)箱準(zhǔn)確模擬環(huán)境溫度，該沖擊箱結(jié)構(gòu)為三箱式，高溫區(qū)和低溫區(qū)和樣品區(qū)，樣品區(qū)處于高溫區(qū)和低溫區(qū)中間，高低溫區(qū)和樣品區(qū)之間有氣流閥門(mén)，當(dāng)樣品需要接受高溫試驗(yàn)時(shí)，高溫區(qū)的閥門(mén)打開(kāi)低溫區(qū)閥門(mén)關(guān)閉，當(dāng)樣...

摘要尚立儀器供應(yīng)冷熱沖擊試驗(yàn)箱，提供本土化售后服務(wù)。TX-THR系列冷熱溫沖擊試驗(yàn)箱準(zhǔn)確模擬環(huán)境溫度，該沖擊箱分為高溫區(qū)和低溫區(qū)，產(chǎn)品處于試驗(yàn)箱的吊籃中，吊籃通過(guò)機(jī)械裝置在高溫和低溫區(qū)中間快速轉(zhuǎn)移，高溫區(qū)和低溫區(qū)的溫度以及吊籃的轉(zhuǎn)移的頻率根據(jù)不同標(biāo)準(zhǔn)而定，從而實(shí)現(xiàn)樣品在高...

摘要廣皓天 PMIC 電源管理芯片冷熱沖擊試驗(yàn)箱，采用吊籃移動(dòng)式兩箱結(jié)構(gòu)，針對(duì) PMIC 電源管理芯片開(kāi)展溫度交變可靠性驗(yàn)證。模擬車載、工控場(chǎng)景溫度驟變工況，考核芯片封裝、焊盤(pán)、基板耐受性能，排查分層、虛焊、電源參數(shù)漂移等失效，滿足 AEC?Q100 車規(guī)測(cè)試要求，支持工...

摘要廣皓天車規(guī) SoC 冷熱沖擊試驗(yàn)箱，采用吊籃移動(dòng)式兩箱結(jié)構(gòu)，針對(duì)車規(guī)系統(tǒng)級(jí)芯片 SoC 做溫度交變可靠性驗(yàn)證。模擬整車暴曬、低溫冷啟動(dòng)等溫度驟變工況，考核芯片封裝、焊盤(pán)、基板耐受性能，排查分層、虛焊、參數(shù)漂移失效，符合 AEC?Q100 車規(guī)測(cè)試要求，支持工裝與設(shè)備配...

摘要廣皓天車規(guī) MCU 冷熱沖擊試驗(yàn)箱，采用吊籃移動(dòng)式兩箱結(jié)構(gòu)，面向車規(guī)微控制器 MCU 開(kāi)展溫度交變可靠性驗(yàn)證。模擬整車晝夜溫差、冷熱驟變工況，考核芯片、封裝、焊盤(pán)耐受能力，篩查虛焊、封裝開(kāi)裂、參數(shù)漂移失效，滿足 AEC?Q100 車規(guī)測(cè)試要求，支持工裝、設(shè)備配置非標(biāo)定...

摘要廣皓天 PCBA 電路板冷熱沖擊試驗(yàn)箱，采用吊籃移動(dòng)式兩箱結(jié)構(gòu)，針對(duì) PCBA 電路板組件開(kāi)展車規(guī)級(jí)溫度交變可靠性測(cè)試。模擬電子產(chǎn)品晝夜冷熱驟變工況，考核 PCB 板材、焊點(diǎn)、元器件耐溫抗疲勞性能，排查虛焊、脫焊、線路開(kāi)裂、參數(shù)漂移等失效，滿足電子可靠性測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)，支持...

摘要 廣皓天車載繼電器冷熱沖擊試驗(yàn)箱，專為車載繼電器、汽車電子開(kāi)關(guān)器件提供溫度交變可靠性測(cè)試。模擬車輛晝夜溫差、行車溫度驟變工況，考核繼電器觸點(diǎn)、簧片、封裝、焊點(diǎn)耐溫抗疲勞性能，排查接觸不良、結(jié)構(gòu)開(kāi)裂、參數(shù)漂移隱患，滿足車規(guī)測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)，支持非標(biāo)定制。

摘要 廣皓天車規(guī)電阻電容電感冷熱沖擊試驗(yàn)箱，采用吊籃移動(dòng)式兩箱結(jié)構(gòu)，針對(duì)車規(guī)被動(dòng)元器件開(kāi)展溫度交變可靠性驗(yàn)證。模擬車載環(huán)境冷熱驟變工況，考核阻容感元器件耐溫度應(yīng)力能力，排查開(kāi)裂、脫層、參數(shù)漂移失效，滿足車規(guī)電子測(cè)試要求，支持載具工裝及設(shè)備配置非標(biāo)定制。