小型環(huán)境試驗(yàn)箱的技術(shù)背景簡(jiǎn)介
2021-01-06標(biāo)簽:小型環(huán)境試驗(yàn)箱
現(xiàn)有的小型環(huán)境試驗(yàn)箱的工作過(guò)程為:空氣經(jīng)過(guò)調(diào)溫、調(diào)濕后,通過(guò)旋轉(zhuǎn)風(fēng)扇,直接排入試驗(yàn)箱內(nèi)。但是,由于空氣排入前沒有混合均勻,排入試驗(yàn)箱后導(dǎo)致試驗(yàn)箱內(nèi)空氣溫度、濕度分布不均勻,對(duì)試驗(yàn)結(jié)果產(chǎn)生影響。且大部分小型環(huán)境試驗(yàn)箱的尺寸較大、笨重,而大部分實(shí)驗(yàn)室的進(jìn)口較小,使運(yùn)輸、安置過(guò)程十分不便。另外,當(dāng)小型環(huán)境試驗(yàn)箱的內(nèi)外溫差較大時(shí),可視窗口上容易結(jié)霧,影響正常觀察。
因此,亟需提供一種小型小型環(huán)境試驗(yàn)箱,以解決現(xiàn)有技術(shù)的不足。
技術(shù)實(shí)現(xiàn)要素:
本實(shí)用新型目的在于,針對(duì)現(xiàn)有技術(shù)不足而提供的一種小型小型環(huán)境試驗(yàn)箱。為了解決上述技術(shù)問(wèn)題,本實(shí)用新型采用的技術(shù)方案如下:
一種小型小型環(huán)境試驗(yàn)箱,包括主箱體和控制箱,所述控制箱安裝在所述主箱體上,所述主箱體包括安裝箱和試驗(yàn)艙,所述安裝箱和試驗(yàn)艙之間設(shè)有空氣通道;所述安裝箱內(nèi)設(shè)有制冷組件;所述空氣通道內(nèi)設(shè)有加濕器,蒸發(fā)器,加熱器和循環(huán)風(fēng)輪;所述試驗(yàn)艙內(nèi)設(shè)有傳感器;所述循環(huán)風(fēng)輪設(shè)于所述試驗(yàn)艙的入口處;所述主箱體上設(shè)置有箱門,所述箱門上設(shè)置有觀察窗,所述觀察窗的內(nèi)表面設(shè)有電熱膜。
本實(shí)用新型的有益效果為:
1.該小型環(huán)境試驗(yàn)箱工作時(shí),空氣經(jīng)過(guò)空氣通道,調(diào)溫、調(diào)濕后,進(jìn)入循環(huán)風(fēng)輪,所述循環(huán)風(fēng)輪將空氣充分?jǐn)嚢琛⒒旌暇鶆蚝?,排入試?yàn)艙內(nèi),使試驗(yàn)艙內(nèi)空氣的溫度、濕度分布更加均勻;
2.該小型環(huán)境試驗(yàn)箱由底座,主箱體和控制箱依次組裝而成,采用立式結(jié)構(gòu),占用空間少,方便產(chǎn)品的運(yùn)輸和安置;
3.該小型環(huán)境試驗(yàn)箱的觀察窗上設(shè)有電熱膜,電熱膜工作時(shí)加熱,防止水汽在觀察窗上結(jié)水珠或結(jié)霧,便于觀察內(nèi)部測(cè)試物品的情況。
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HAST試驗(yàn)箱定制面向半導(dǎo)體封裝、車規(guī)IC、光伏接線盒及多層PCB的濕氣滲透與電化學(xué)遷移加速驗(yàn)證。采用溫濕壓三參數(shù)獨(dú)立閉環(huán),構(gòu)建105℃~143℃、65%~100%RH、0.02~0.3MPa非飽和高壓環(huán)境,支持帶電偏壓測(cè)試。符合JESD22-A118、IEC 60068-2-66及GB/T 2423.40,數(shù)十小時(shí)等效數(shù)千小時(shí)自然老化,是可靠性實(shí)驗(yàn)室的核心加速裝備
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風(fēng)化試驗(yàn)箱是模擬自然氣候環(huán)境變化的綜合性加速老化測(cè)試設(shè)備,可復(fù)刻陽(yáng)光照射、高溫、低溫、濕度、淋雨、凝露等多種自然氣候工況,用于檢測(cè)各類材料、涂層、塑膠、橡膠、涂料、外殼產(chǎn)品在長(zhǎng)期戶外使用下的耐老化、褪色、開裂、粉化、性能衰減情況。設(shè)備控制系統(tǒng)穩(wěn)定、溫濕度均勻性好,試驗(yàn)數(shù)據(jù)重復(fù)性高,廣泛用于工廠質(zhì)檢、新品研發(fā)和第三方檢測(cè)認(rèn)證,是材料耐候性能驗(yàn)證的常規(guī)環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備。
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廣州皓天檢測(cè)設(shè)備步入式恒溫恒濕房用于電路板、芯片、顯示屏、LED模組等在高溫/低溫環(huán)境下的可靠性;對(duì)電工電子產(chǎn)品及其元器件進(jìn)行高低溫適應(yīng)性試驗(yàn),供產(chǎn)品設(shè)計(jì)、改進(jìn)及出廠檢驗(yàn)用。
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步入式恒溫恒濕房測(cè)試電路板、芯片、顯示屏、LED模組等在高溫/低溫環(huán)境下的可靠性;對(duì)電工電子產(chǎn)品及其元器件進(jìn)行高低溫適應(yīng)性試驗(yàn),供產(chǎn)品設(shè)計(jì)、改進(jìn)及出廠檢驗(yàn)用。
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步入式高低溫試驗(yàn)箱采用平衡調(diào)溫調(diào)濕法(BTHC),制冷系統(tǒng)連續(xù)運(yùn)行,控制系統(tǒng)根據(jù)設(shè)定溫度點(diǎn)通過(guò)PID自動(dòng)運(yùn)算控制加熱器輸出量,實(shí)現(xiàn)系統(tǒng)動(dòng)態(tài)平衡,有效降低能耗
熱氣旁通技術(shù)減少壓縮機(jī)頻繁啟停,長(zhǎng)期運(yùn)行可節(jié)能約45% -
WHTA?08S 步入式試驗(yàn)室用于樣品大批量溫濕度環(huán)境可靠性測(cè)試,可模擬不同溫度、濕度環(huán)境條件,適用于整機(jī)、大型組件類試樣開展環(huán)境適應(yīng)性驗(yàn)證??晒╇娮与娖?、汽車零部件、新能源、材料等行業(yè),完成產(chǎn)品溫循環(huán)、耐濕熱、環(huán)境老化等試驗(yàn),為產(chǎn)品研發(fā)、型式檢驗(yàn)提供環(huán)境試驗(yàn)條件。
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RDP-010 砂塵試驗(yàn)箱 帶內(nèi)置照明觀察窗
皓天鑫 RDP-010 砂塵箱容積 1000L,符合 GB/T4208、IEC60529、GB/T2423.37 檢測(cè)標(biāo)準(zhǔn),用于產(chǎn)品 IP5X、IP6X 防塵密封性能測(cè)試。設(shè)備配備大尺寸密封觀察窗與內(nèi)置照明燈,試驗(yàn)全程可視;搭載故障自診斷系統(tǒng),自動(dòng)識(shí)別設(shè)備異常,搭配 PLC 程控與閉環(huán)粉塵循環(huán)風(fēng)道,工況穩(wěn)定,數(shù)據(jù)重復(fù)性好,適配研發(fā)驗(yàn)證、出廠抽檢、第 -
砂塵箱 外殼防護(hù)等級(jí)試驗(yàn) GJB吹塵 1000L
本款1000L砂塵試驗(yàn)箱兼容國(guó)標(biāo)與國(guó)本款1000L砂塵試驗(yàn)箱兼容軍標(biāo)GJB砂塵試驗(yàn)規(guī)范,適配電工電子產(chǎn)品IP5X、IP6X外殼防護(hù)等級(jí)測(cè)試及軍設(shè)備吹塵試驗(yàn)。大容量工作室可容納大型試樣及多組試樣同步檢測(cè),采用閉環(huán)粉塵循環(huán)系統(tǒng)與PLC觸控控制系統(tǒng),模擬沙塵、揚(yáng)塵惡劣工況,穩(wěn)定完成產(chǎn)品防塵密封性、耐塵可靠性檢測(cè),適配民用合規(guī)檢測(cè)與軍環(huán)境試驗(yàn)需求 -
砂塵試驗(yàn)箱電工電子產(chǎn)品防塵測(cè)試 800L
本款 800L 砂塵試驗(yàn)箱依照 GB/T4208、IEC60529、GB/T2423.37 標(biāo)準(zhǔn)設(shè)計(jì),用于電工電子產(chǎn)品 IP5X、IP6X 防塵塵密性能檢測(cè)。箱體容積充足,適配中型整機(jī)、模組類試樣;搭載垂直循環(huán)粉塵風(fēng)道,粉塵可循環(huán)復(fù)用,觸控 PLC 程序控制,穩(wěn)定模擬自然沙塵工況,客觀驗(yàn)證產(chǎn)品外殼密封防護(hù)能力,滿足研發(fā)驗(yàn)證、出廠抽檢、第三方認(rèn)證全流程測(cè)試需 -
高空低氣壓試驗(yàn)箱冷軋板國(guó)標(biāo)輻照用于航空航天、車載電子及通信模塊在高海拔低氣壓與模擬太陽(yáng)輻照耦合環(huán)境下的性能驗(yàn)證,箱體采用優(yōu)質(zhì)冷軋鋼板經(jīng)防銹處理,配置高精度真空機(jī)組與可編程輻照控制系統(tǒng),氣壓范圍常壓至1kPa,可同步加載氙燈或紫外輻照源。設(shè)備抽氣速率穩(wěn)定,壓力波動(dòng)小,適用于機(jī)載電子設(shè)備、衛(wèi)星部件及高原型電工產(chǎn)品的低氣壓放電與溫升測(cè)試。
